點(diǎn)線規(guī)比對卡A4點(diǎn)規(guī)上海

• 更新日期：2025-01-11

比對卡判定污點(diǎn),是用來測量、對比手機(jī)外殼、LENS、DISPLAY等部件的點(diǎn)、劃痕的面積、直徑、寬度、長度是否超過基準(zhǔn).精度高.可根據(jù)客戶要求進(jìn)行定制。

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點(diǎn)規(guī)通常應(yīng)用在電子行業(yè)中產(chǎn)品的外觀檢查方面。 電子廠品檢用點(diǎn)規(guī)線規(guī)圖，方便品檢員規(guī)范統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)。各種尺寸大小，污點(diǎn)卡、點(diǎn)規(guī)主要用于品管部門判定污點(diǎn)，是用來測量、對比手機(jī)外殼、DISPLAY等部件的點(diǎn)、劃痕的面積、直徑、寬度、長度是否超過基準(zhǔn)，適用在LCD,PCB板,光電，通信行業(yè)等.通過外觀等級的，采用點(diǎn)規(guī)線規(guī)卡客觀的進(jìn)行定量測定，從而統(tǒng)一全公司產(chǎn)品的外觀判定標(biāo)準(zhǔn)，縮小零部件接收部門和供應(yīng)商之間的判定誤差，可以正確的向供應(yīng)商和接收部門傳達(dá)所要求的產(chǎn)品的外觀，而不需要制作限度樣品，不需要外觀的等級！ 尺寸:各種大小， 點(diǎn)：從0.1到3.00線：0.02,0.05,0.08,,0.1,0.2,0.3,0.5,0.7,1.0,3.0面：0.08到1.5點(diǎn)規(guī)的作用 以確定一個(gè)不規(guī)則的點(diǎn)或線性刮傷可不可以通過檢驗(yàn)要求 點(diǎn)規(guī)的組成 點(diǎn)規(guī)的大小通常為A4紙的大小，它是由點(diǎn)區(qū)、25%灰界面和刻度線組成。